Chimie du solide

Compétences:

retrouver les angles de diffraction à partir des fiches de référence

En RX, on travaille à partir de tableau normalisés comme celui proposé ci dessous.

On y trouve :

un code d'échantillon,
la valeur de la longueur d'onde de l'appareil RX,
le type,
les distances inter réticulaires
les indices de Miller des plans qui diffractent (hkl) et
l'intensité relative des signaux observés (i).

Sachant que:

$d_{hkl} = \frac{n λ}{2 \sin (θ)}$ (avec n=1)
$\sin (θ) = \frac{λ}{2 d_{hkl}} = \frac{λ}{2 \frac{a}{\sqrt{h^{2} + k^{2} + l^{2}}}}$

Soit:

$\sin {(θ)}_{1} = \frac{154,056}{2 x \frac{361,5}{\sqrt{1^{2} + 1^{2} + 1^{2}}}} = 0,369$

θ₁=21,65°

Valeur des angles θ_lu est égal au double :
43,31°
Le même calcul conduit aux autres valeurs :
50,44° - 74,12° - 89,93° - 95,14° - 116,9° - 136,5° - 144,7°