Chimie du solide: 1.2.2
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La mesure de l'angle de diffraction
La conception de l'appareillage RX conduit à la mesure d'un angle (θlu) égal à deux fois l'angle
de diffraction (θ) comme le montre la figure proposée.
En effet, les RX sont diffractés par un plan (par exemple celui qui est matérialisé) et diffractent sur celui-ci avec un
angle de diffraction θ.
Le même angle
existe à l'arrière du plan qui diffracte (angle opposé).On obtient bien un
angle lu égal à deux fois l'angle de diffraction.
L'angle lu (θlu) permet d'obtenir l'angle de diffraction (θ = θlu/ 2) qui permet de déterminer des distances inter-réticulaires dhklpar la relation de Bragg :
dhkl= n λ / 2 sin θ avec n = 1
car pour qu'il y ait diffraction on pose comme principe de départ que la longueur d'onde est du même ordre de grandeur que la distance entre les plans réticulaires.