Les appareil RX donnent des valeurs d'angles et ceux-ci correspondent à des distances inter réticulaires.
La relation de Bragg : dhkl = λ / 2 sin θ permet d'associer une distance inter réticulaire à un angle de diffraction
On mesure l'angle θlu, on en déduit l'angle de diffraction (θlu / 2) et la distance inter réticulaire dhkl = λ / 2 sin θ
θ1 conduit à d1, θ2 conduit à d2, ...
Par exemple, le cuivre conduit au spectre suivant :
Valeur des angles θlu : 43,31 - 50,44 - 74,12 - 89,93 - 95,14 - 116,9 - 136,5 - 144,7
Les spectres permettent de visualiser le spectre global avec les intensités
relatives des signaux mais comme la valeur des angles doit
être au centième de degré, ces spectres n'ont que peu d'intérêt.
On travaille donc à partir de tableaux normalisés et
l'on a condensé l'un d'eux ci contre.
On y trouve un code d'échantillon, la valeur de la
longueur d'onde de l'appareil RX, le type, les
distances inter réticulaires ... les indices
de Miller
des plans qui diffractent (hkl) et l'intensité relative
des signaux observés i.